一、無(wú)閃現(xiàn)、輸出電壓低、帶不起負(fù)載：

此類(lèi)不良首要排除電池電芯不良（電芯原本無(wú)電壓或電壓低），假設(shè)電芯不良則應(yīng)檢驗(yàn)保護(hù)板的自耗電，看是否是保護(hù)板自耗電過(guò)大導(dǎo)致電芯電壓低。假設(shè)電芯電壓正常，則是因?yàn)楸Ｗo(hù)板整個(gè)回路不通（元器件虛焊、假焊、FUSE不良、PCB板內(nèi)部電路不通、過(guò)孔不通、MOS、IC損壞等）。具體分析

過(guò)程如下：

（一）、用萬(wàn)用表黑表筆接電芯負(fù)極，紅表筆依次接FUSE、R1電阻兩端，IC的Vdd、Dout、Cout端，P+端（假定電芯電壓為3.8V），逐段進(jìn)行分析，此幾個(gè)檢驗(yàn)點(diǎn)都應(yīng)為3.8V。若不是，則此段電路有問(wèn)題。

1、FUSE兩端電壓有改動(dòng)：檢驗(yàn)FUSE是否導(dǎo)通，若導(dǎo)公例是PCB板內(nèi)部電路不通；若不導(dǎo)公例FUSE有問(wèn)題（來(lái)料不良、過(guò)流損壞（MOS或IC操控失效）、質(zhì)料有問(wèn)題（在MOS或IC動(dòng)作之前FUSE被燒壞），然后用導(dǎo)線(xiàn)短接FUSE，持續(xù)往后分析。

2、R1電阻兩端電壓有改動(dòng)：檢驗(yàn)R1電阻值，若電阻值失常，則或許是虛焊，電阻自身開(kāi)裂。若電阻值無(wú)失常，則或許是IC內(nèi)部電阻出現(xiàn)問(wèn)題。

3、IC檢驗(yàn)端電壓有改動(dòng)：Vdd端與R1電阻相連。Dout、Cout端失常，則是因?yàn)镮C虛焊或損壞。

4、若前面電壓都無(wú)改動(dòng)，檢驗(yàn)B-到P+間的電壓失常，則是因?yàn)楸Ｗo(hù)板正極過(guò)孔不通。

（二）、萬(wàn)用表紅表筆接電芯正極，激活MOS管后，黑表筆依次接MOS管2、3腳，6、7腳，P-端。

1.MOS管2、3腳，6、7腳電壓有改動(dòng)，則標(biāo)明MOS管失常。

2.若MOS管電壓無(wú)改動(dòng)，P-端電壓失常，則是因?yàn)楸Ｗo(hù)板負(fù)極過(guò)孔不通。

二、短路無(wú)保護(hù)：

1、VM端電阻出現(xiàn)問(wèn)題：可用萬(wàn)用表一表筆接IC2腳，一表筆接與VM端電阻相連的MOS管管腳，供認(rèn)其電阻值大小?？措娮枧cIC、MOS管腳有無(wú)虛焊。

2、IC、MOS失常：因?yàn)檫^(guò)放保護(hù)與過(guò)流、短路保護(hù)共用一個(gè)MOS管，若短路失常是因?yàn)镸OS出現(xiàn)問(wèn)題，則此板應(yīng)無(wú)過(guò)放保護(hù)功用。

三、電池短路保護(hù)無(wú)自恢復(fù)：

1、規(guī)劃時(shí)所用IC原本沒(méi)有自恢復(fù)功用，如G2J，G2Z等。

2、儀器設(shè)置短路恢復(fù)時(shí)間過(guò)短，或短路檢驗(yàn)時(shí)未將負(fù)載移開(kāi)，如用萬(wàn)用表電壓檔進(jìn)行短路表筆短接后未將表筆從檢驗(yàn)端移開(kāi)（萬(wàn)用表相當(dāng)于一個(gè)幾兆的負(fù)載）。

3、P+、P-間漏電，如焊盤(pán)之間存在帶雜質(zhì)的松香，帶雜質(zhì)的黃膠或P+、P-間電容被擊穿，ICVdd到Vss間被擊穿.（阻值只有幾K到幾百K）.

4、假設(shè)以上都沒(méi)問(wèn)題，或許IC被擊穿，可檢驗(yàn)IC各管腳之間阻值。